元器件好壞的簡易測試法——變頻器維修

　　在維修過程中，根據(jù)故障情況要用萬用表來檢測電子元器件的好壞，如測量方法不正確就很可能導致誤判斷，提醒您這將給維修工作造成困難，甚至造成不必要的經濟損失。測量方法分為元器件測試和線路板在路測試兩種方式。在路測試：斷開變頻器電源，在不拆動線路板元器件的條件下，測量線路板上的元器件。對于元器件擊穿、短路、開路性故障，這種檢測方法可以方便快捷的查找出損壞的元器件，但還應考慮線路板上所測元器件與其并聯(lián)的元器件對測量結果所產生的影響，以免造成誤判斷錯誤。下面介紹元器件好壞的判斷方法：

　　普通二極管的檢測

　　用MF47型萬用表測量，將紅、黑表筆分別接在二極管的兩端，讀取讀數(shù)，再將表筆對調測量。根據(jù)兩次測量結果判斷，通常小功率鍺二極管的正向電阻值為300-500Ω，硅二極管約為1kΩ或更大些。鍺管反相電阻為幾十千歐，硅管反向電阻在500kΩ以上(大功率二極管的數(shù)值要小的多)。好的二極管正向電阻較低，反向電阻較大，正反向電阻差值越大越好。如果測得正、反向電阻很小均接近于零，說明二極管內部已短路;若正、反向電阻很大或趨于無窮大，則說明管子內部已斷路。在這兩種情況下二極管就需報廢。

　　在路測試：測試二極管PN結正反向電阻，比較容易判斷出二極管是擊穿短路還是斷路。4.2三極管檢測

　　將數(shù)字萬用表撥到二極管檔，用表筆測PN結，如果正向導通，則顯示的數(shù)字即為PN結的正向壓降。

　　先確定集電極和發(fā)射極;用表筆測出兩個PN結的正向壓降，壓降大的是發(fā)射極e，壓降小的是集電極c。在測試兩個結時，紅表筆接的是公共極，則被測三極管為NPN型，且紅表筆所接為基極b;如果黑表筆接的是公共極，則被測三極管是PNP型，且此極為基極b。三極管損壞后PN結有擊穿短路和開路兩種情況。

　　在路測試：在路測試三極管，實際上是通過測試PN結的正、反向電阻，來達到判斷三極管是否損壞。支路電阻大于PN結正向電阻，正常時所測得正、反向電阻應有明顯區(qū)別，否則PN結損壞了。支路電阻小于PN結正向電阻時，應將支路斷開，否則就無法判斷三極管的好壞。

　　三相整流橋模塊檢測

　　以SEMIKRON(西門子)整流橋模塊為例，如附圖所示。將數(shù)字萬用表撥到二極管測試檔，黑表筆接COM，紅表筆接VΩ，用紅、黑兩表筆先后測3、4、5相與2、1極之間的正反向二極管特性，來檢查判斷整流橋是否完好。所測的正反向特性相差越大越好;如正反向為零，說明所檢測的一相已被擊穿短路;如正反向均為無窮大，說明所檢測的一相已經斷路。整流橋模塊只要有一相損壞，就應更換。

　　逆變器IGBT模塊檢測

　　將數(shù)字萬用表撥到二極管測試檔，測試IGBT模塊C1.E1、C2.E2之間以及柵極G與E1、E2之間正反向二極管特性，來判斷IGBT模塊是否完好。

　　以德國eupec25A/1200V六相IGBT模塊為例，(參見附圖)。將負載側U、V、W相的導線拆除，使用二極管測試檔，紅表筆接P(集電極C1)，黑表筆依次測U、V、W(發(fā)射極E1)，萬用表顯示數(shù)值為比較大;將表筆反過來，黑表筆接P，紅表筆測U、V、W，萬用表顯示數(shù)值為400左右。再將紅表筆接N(發(fā)射極E2)，黑表筆測U、V、W，萬用表顯示數(shù)值為400左右;黑表筆接N，紅表筆測U、V、W(集電極C2)，萬用表顯示數(shù)值為比較大。各相之間的正反向特性應相同，若出現(xiàn)差別說明IGBT模塊性能變差，應予更換。IGBT模塊損壞時，只有擊穿短路情況出現(xiàn)。

　　紅、黑兩表筆分別測柵極G與發(fā)射極E之間的正反向特性，萬用表兩次所測的數(shù)值都為比較大，這時可判定IGBT模塊門極正常。如果有數(shù)值顯示，則門極性能變差，此模塊應更換。當正反向測試結果為零時，說明所檢測的一相門極已被擊穿短路。門極損壞時電路板保護門極的穩(wěn)壓管也將擊穿損壞。